集成電路 IC 卡高低溫測(cè)試說明：集成電路 IC 卡在出廠前必須經(jīng)過環(huán)境測(cè)試，用來模擬集成電路在不同工作環(huán)境中的性能。Lab Companion 溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)可對(duì)接探針臺(tái)和晶片級(jí)集成電路專用自動(dòng)測(cè)試機(jī)協(xié)同，完成集成電路高低溫循環(huán)測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、Thermal shock、老化測(cè)試等試驗(yàn)。Lab Companion 溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)可實(shí)現(xiàn)快速升降溫循環(huán)測(cè)試，溫度控制精度優(yōu)異，特別適合大規(guī)模集成電路的高低溫性能檢測(cè)。

Lab Companion 集成電路高低溫測(cè)試客戶案例一

上海某客戶是一家芯片生產(chǎn)的半導(dǎo)體廠商，經(jīng)過技術(shù)選型，選用 Lab Companion TS-180 用于集成電路 IC 卡高低溫測(cè)試。TS-180 采用立式一體化結(jié)構(gòu)，體積精巧；溫度測(cè)試范圍：-60 ℃ ~ +150 ℃；搭載可編程觸控控制面板，操作直觀便捷。

集成電路 IC 卡高低溫通用測(cè)試方法： 客戶可采用 DUT Mode 試樣測(cè)溫模式開展試驗(yàn)：

1. 將待測(cè) IC 卡與溫度傳感器安置在測(cè)試治具腔體內(nèi)

2. 操作人員設(shè)置所需執(zhí)行的溫度區(qū)間、循環(huán)次數(shù)、高低溫駐留時(shí)長(zhǎng)

3. 啟動(dòng) TS-180 溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)，設(shè)備二元復(fù)疊式制冷系統(tǒng)獨(dú)立管控冷熱蓄溫區(qū)，冷熱氣流分區(qū)存儲(chǔ)、自動(dòng)切換沖擊；內(nèi)置溫度傳感器持續(xù)監(jiān)測(cè)腔體內(nèi)工況溫度。設(shè)備自帶完善過熱溫度保護(hù)系統(tǒng)，出廠預(yù)設(shè)溫度an全限值，操作人員可按需自定義高低溫保護(hù)控制點(diǎn)，達(dá)到極限溫度后設(shè)備自動(dòng)停機(jī)保護(hù)樣品。

集成電路 IC 卡溫度測(cè)試客戶案例二

廣東本地 IC 卡生產(chǎn)企業(yè)，經(jīng)過技術(shù)選型，采購 Lab Companion TS-100 溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)，溫度測(cè)試范圍：-60 ℃ ~ +150 ℃；適用于實(shí)驗(yàn)室內(nèi)無空壓機(jī)配套環(huán)境的客戶，設(shè)備一體化集成無需額外氣源配套，安裝移動(dòng)便捷。

廣東宏展 Lab Companion 系列溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)，溫度范圍 -60 ℃ ~ +150 ℃，整機(jī)防靜電工業(yè)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，搭載二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)，不需要 LN?液氮或 CO?輔助冷卻；溫度精度 ±1.0℃，溫度顯示精度：±0.5℃，計(jì)量可溯源 CNAS 校準(zhǔn)，整機(jī)通過 ISO 9001、CE、RoHS 認(rèn)證。Lab Companion 設(shè)備適用于 RF 射頻，微波，電子元器件，功率器件，IC 卡芯片、集成電路等溫度可靠性測(cè)試，滿足芯片特性驗(yàn)證和故障分析的需求。

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