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技術文章

Lab Companion 溫度沖擊試驗機 an全芯片高低溫沖擊測試

廣東宏展 Lab Companion 溫度沖擊試驗機可與愛德萬 advantest,泰瑞達 teradyne,惠瑞捷 verigy 等測試機聯(lián)用,開展an全芯片高低溫沖擊測試。設備支持外接熱電偶實時監(jiān)測an全芯片本體真實溫度,搭配定制測試工裝,可針對測試平臺 load board 上的an全芯片開展快速溫度循環(huán)沖擊,解決傳統(tǒng)普通高低溫箱難以實現(xiàn)定點差異化測試的痛點。

an全芯片多用于銀hang卡、門禁卡及物聯(lián)網(wǎng)終端,由于產(chǎn)品內(nèi)部空間狹小、芯片接觸面積小、空氣流通環(huán)境差、散熱條件有限,芯片表面極易經(jīng)歷快速溫升,并且往往需要在高溫環(huán)境長時間持續(xù)工作;同時研發(fā)實驗室需要采集芯片全溫域運行數(shù)據(jù)用于存檔追溯,因此驗證an全芯片在快速變溫工況下的運行穩(wěn)定性十分必要。

an全芯片高低溫測試客戶案例

國內(nèi)某半導體公司an全芯片測試需求:-40℃~105℃,選用 Lab Companion TS-180 溫度沖擊試驗機與泰瑞達測試機聯(lián)用,對an全芯片執(zhí)行快速冷熱沖擊,支持編輯 12 組不同形式的循環(huán)溫度程序,高效獲取完整、精準的可靠性試驗數(shù)據(jù)。

 

Lab Companion TS-180 技術參數(shù)

項目

TS-180

型號

TS-180 三箱式溫度沖擊試驗機

溫度范圍

-40 ~ +120(50Hz),拓展機型可達 - 60℃~+150℃

溫變速率

5~25℃/min 線性可調(diào)

溫度精度

±1.0℃,整機可溯源 CNAS 計量校準

溫度顯示分辨率

0.1℃

溫度傳感器

T 型或 K 型熱電偶(支持 DUT 試樣測溫)

制冷配置

二元復疊式風冷制冷系統(tǒng),不需要 LN?或 LCO?輔助冷卻

通訊接口

Ethernet、IEEE 488、RS232,可對接各類半導體測試平臺

廣東宏展 Lab Companion 系列溫度沖擊試驗機,溫度范圍 -60 ℃ ~ +150 ℃,整機防靜電工業(yè)結構設計,搭載二元復疊式風冷制冷系統(tǒng),不需要 LN?液氮或 CO?輔助冷卻;溫度顯示精度:±0.5℃,計量可溯源 CNAS 校準,整機通過 ISO 9001、CE、RoHS 認證。Lab Companion 設備適用于 RF 射頻,微波,電子元器件,功率器件,an全芯片、通信芯片等溫度可靠性測試,滿足芯片特性驗證和故障分析的需求。

若您需要進一步了解 Lab Companion 溫度沖擊試驗機詳細信息或方案討論,請參考以下聯(lián)絡方式:

廣東宏展科技:

TEL+86 1391-883-7267(微信同號)