廣東宏展 Lab Companion 溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)可與愛(ài)德萬(wàn) advantest，泰瑞達(dá) teradyne，惠瑞捷 verigy 等測(cè)試機(jī)聯(lián)用，開(kāi)展an全芯片高低溫沖擊測(cè)試。設(shè)備支持外接熱電偶實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)an全芯片本體真實(shí)溫度，搭配定制測(cè)試工裝，可針對(duì)測(cè)試平臺(tái) load board 上的an全芯片開(kāi)展快速溫度循環(huán)沖擊，解決傳統(tǒng)普通高低溫箱難以實(shí)現(xiàn)定點(diǎn)差異化測(cè)試的痛點(diǎn)。
an全芯片多用于銀hang卡、門(mén)禁卡及物聯(lián)網(wǎng)終端，由于產(chǎn)品內(nèi)部空間狹小、芯片接觸面積小、空氣流通環(huán)境差、散熱條件有限，芯片表面極易經(jīng)歷快速溫升，并且往往需要在高溫環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間持續(xù)工作；同時(shí)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室需要采集芯片全溫域運(yùn)行數(shù)據(jù)用于存檔追溯，因此驗(yàn)證an全芯片在快速變溫工況下的運(yùn)行穩(wěn)定性十分必要。
an全芯片高低溫測(cè)試客戶(hù)案例
國(guó)內(nèi)某半導(dǎo)體公司an全芯片測(cè)試需求：-40℃～105℃，選用 Lab Companion TS-180 溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)與泰瑞達(dá)測(cè)試機(jī)聯(lián)用，對(duì)an全芯片執(zhí)行快速冷熱沖擊，支持編輯 12 組不同形式的循環(huán)溫度程序，高效獲取完整、精準(zhǔn)的可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
Lab Companion TS-180 技術(shù)參數(shù)
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項(xiàng)目
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TS-180
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型號(hào)
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TS-180 三箱式溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)
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溫度范圍℃
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-40 ~ +120（50Hz），拓展機(jī)型可達(dá) - 60℃~+150℃
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溫變速率
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5～25℃/min 線性可調(diào)
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溫度精度
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±1.0℃，整機(jī)可溯源 CNAS 計(jì)量校準(zhǔn)
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溫度顯示分辨率
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0.1℃
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溫度傳感器
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T 型或 K 型熱電偶（支持 DUT 試樣測(cè)溫）
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制冷配置
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二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)，不需要 LN?或 LCO?輔助冷卻
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通訊接口
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Ethernet、IEEE 488、RS232，可對(duì)接各類(lèi)半導(dǎo)體測(cè)試平臺(tái)
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廣東宏展 Lab Companion 系列溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)，溫度范圍 -60 ℃ ~ +150 ℃，整機(jī)防靜電工業(yè)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，搭載二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)，不需要 LN?液氮或 CO?輔助冷卻；溫度顯示精度：±0.5℃，計(jì)量可溯源 CNAS 校準(zhǔn)，整機(jī)通過(guò) ISO 9001、CE、RoHS 認(rèn)證。Lab Companion 設(shè)備適用于 RF 射頻，微波，電子元器件，功率器件，an全芯片、通信芯片等溫度可靠性測(cè)試，滿(mǎn)足芯片特性驗(yàn)證和故障分析的需求。
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