閃存 (Flash Memory)，是非揮發(fā)性內(nèi)存的一種，不需要電力來維持?jǐn)?shù)據(jù)的儲(chǔ)存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用于儲(chǔ)存程序代碼，后者用于儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。閃存應(yīng)用范圍涵蓋汽車電子、物聯(lián)網(wǎng)、存儲(chǔ)器、DSL 電纜調(diào)制解調(diào)器、數(shù)字電視、照相機(jī)、藍(lán)牙、GPS、工業(yè)電子等等。

閃存溫度測試原因

為確保閃存可在極端溫度環(huán)境（例如：油氣勘探、重工業(yè)以及航空領(lǐng)域）可正常實(shí)現(xiàn)穩(wěn)健的閃存讀 / 寫操作功能，因此在出廠前需要進(jìn)行溫度可靠性測試。廣東宏展 Lab Companion 溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)擁有寬廣可控溫區(qū)，標(biāo)準(zhǔn)區(qū)間-40℃ ~ +120℃，拓展機(jī)型可達(dá) - 60℃ ~ +150℃，溫變速率 5～25℃/min 線性可調(diào)，溫控精度 ±1.0℃等優(yōu)勢，廣泛應(yīng)用于閃存制造行業(yè)。廣東宏展作為 Lab Companion 品牌原廠，全權(quán)負(fù)責(zé)產(chǎn)品研發(fā)制造、新品銷售和售后維修服務(wù)。

閃存溫度測試方法

通過與愛德萬 (Advantest) 內(nèi)存 IC 測試系統(tǒng)搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測試閃存的運(yùn)作特性。根據(jù)客戶實(shí)際要求，Lab Companion 溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)支持兩種溫度操作模式：程式循環(huán)模式及 DUT mode 試樣測溫模式。

閃存大多采用 DUT mode 即 Device under test 模式來進(jìn)行高低溫循環(huán)測試，將閃存與試驗(yàn)機(jī)外接 T type 熱電偶相互連接，如此即可精que掌控被測物達(dá)到機(jī)臺(tái)所設(shè)定之溫度。閃存高低溫測試方法同樣適合內(nèi)嵌式記憶體 eMMC 溫度測試。 Lab Companion 溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)可與愛德萬 Advantest，泰瑞達(dá) teradyne，惠瑞捷 verigy 工程機(jī)聯(lián)用，開展閃存芯片高低溫循環(huán)可靠性測試。

廣東宏展 Lab Companion 系列溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)，極限拓展溫度范圍 -60 ℃ ~ +150 ℃，整機(jī)防靜電工業(yè)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，搭載二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)，不需要 LN?液氮或 CO?輔助冷卻；溫度顯示精度：±0.5℃，計(jì)量可溯源 CNAS 校準(zhǔn)，整機(jī)通過 ISO 9001、CE、RoHS 認(rèn)證。Lab Companion 設(shè)備適用于 RF 射頻，微波，電子，功率器件，通信存儲(chǔ)芯片等溫度可靠性測試，滿足芯片特性和故障分析的需求。

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