廣東宏展 LabCompanion 溫度循環(huán)測試機，適用于不同封裝尺寸的光通信芯片及各類器件可靠性測試，例如光發(fā)射模塊、光接收組件、存儲芯片、MCU 芯片等。LabCompanion 設(shè)備箱體容積選擇豐富，可提供穩(wěn)定、溫度均勻的高低溫交變測試環(huán)境。
LabCompanion 為光模塊高低溫可靠性驗證提供完整解決方案
1. 樣品準(zhǔn)備：將待測光模塊安裝于專用測試載具 / 治具上
2. 溫區(qū)設(shè)置：使用 LabCompanion 溫度循環(huán)試驗機，按照規(guī)范設(shè)定光模塊測試溫度區(qū)間，例如 0℃、40℃和 70℃，也可依據(jù)客戶需求自定義高低溫區(qū)間
3. 帶電測試：模擬光模塊不同工況通電運行
4. 同步測試：配合光電測試設(shè)備，完成靈敏度、光功率等參數(shù)采集，評估光模塊在極限溫變下的性能指標(biāo)
5. 數(shù)據(jù)分析：對測試結(jié)果匯總分析，驗證光模塊在不同溫度與循環(huán)條件下的性能是否滿足設(shè)計要求
LabCompanion 溫度循環(huán)測試機 VS 傳統(tǒng)普通溫度循環(huán)試驗機
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項目
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LabCompanion TS 系列溫度循環(huán)測試機
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傳統(tǒng)普通高低溫循環(huán)試驗箱
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溫度區(qū)間
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-60℃ ~ +150℃
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常規(guī)大多僅 - 40℃~+120℃，難以滿足寬溫域芯片驗證
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溫變速率
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5～25℃/min 線性可調(diào)，支持程序自定義升降溫斜率
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升降溫速率普遍≤3℃/min，交變速度慢，測試周期長
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溫度精度
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溫度精度 ±1.0℃，溫度均勻性優(yōu)xui，支持 CNAS 計量溯源
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箱內(nèi)溫差較大，均勻性較差，長時間循環(huán)易出現(xiàn)溫漂
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試樣 DUT 測溫
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支持外接 T/K 型熱電偶，直接采集芯片 / 模塊表面真實溫度
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僅采集箱內(nèi)空氣溫度，無法監(jiān)測器件本體實際溫度
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冷熱沖擊功能
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三箱式結(jié)構(gòu)，冷熱區(qū)獨立蓄溫，沖擊切換時間≤12s，兼具溫度循環(huán) + 溫度沖擊兩用功能
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僅具備緩慢溫度循環(huán)，無法實現(xiàn)快速冷熱沖擊試驗
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控制系統(tǒng)
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多段可編程程式，可設(shè)置循環(huán)次數(shù)、駐留時間、斜率，支持?jǐn)嚯娎m(xù)測
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程序功能簡單，分段數(shù)量少，復(fù)雜循環(huán)工況難以實現(xiàn)
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通訊接口
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標(biāo)配 Ethernet、IEEE 488、RS232，可對接自動化測試平臺 Loadboard
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通訊接口單一，很難和半導(dǎo)體測試系統(tǒng)聯(lián)動
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制冷系統(tǒng)
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二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)，連續(xù)長時間運行穩(wěn)定，無需 LN?輔助冷卻
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單級制冷，低溫工況負(fù)載能力弱，長時間連續(xù)循環(huán)易升溫漂移
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防靜電設(shè)計
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整機防靜電工業(yè)結(jié)構(gòu)，適配半導(dǎo)體、光電器件敏感元器件測試
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基礎(chǔ)機型一般無專業(yè)防靜電構(gòu)造，容易產(chǎn)生靜電損傷樣品
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LabCompanion 系列機型擁有完善的溫度控制解決方案，方便客戶直接在實驗室及產(chǎn)線工作臺開展光模塊、電路板等可靠性驗證；豐富的程序編輯功能支持多段循環(huán)設(shè)定，控溫精準(zhǔn)穩(wěn)定，最大程度減少環(huán)境波動對測試結(jié)果的干擾。
廣東宏展 LabCompanion 系列溫度沖擊試驗機，溫度范圍 -60 ℃ ~ +150 ℃，整機防靜電工業(yè)結(jié)構(gòu)設(shè)計，搭載二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)，不需要 LN?液氮或 CO?輔助冷卻；溫度顯示精度：±0.5℃，計量可溯源 CNAS 校準(zhǔn)，整機通過 ISO 9001、CE、RoHS 認(rèn)證。LabCompanion 設(shè)備適用于 RF 射頻，微波，光通信器件，功率器件，通信芯片等溫度可靠性測試，滿足元器件特性驗證和故障分析的需求。
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廣東宏展科技：
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