存儲器芯片是半導體存儲產品核心，屬于電子系統中負責數據存儲的關鍵元器件。存儲芯片出廠前需要驗證芯片在快速溫度交變過程中的穩(wěn)定性。廣東宏展 LabCompanion 溫度循環(huán)測試機可實現寬域溫度循環(huán)沖擊試驗，滿足 Flash 及 DRAM 存儲器研發(fā)設計需求，為存儲芯片提供穩(wěn)定可靠的溫度測試環(huán)境。
存儲芯片高低溫沖擊測試案例
某國內知名存儲芯片設計公司，主營產品 Flash 及 DRAM 存儲器 推薦機型：LabCompanion TS-180 溫度循環(huán)測試機 配套設備：可搭配愛德萬 Advantest 內存 IC 測試系統 測試目的：研發(fā)階段驗證存儲芯片運行特性，同時可用于失效芯片在不同溫度條件下快速故障診斷。
存儲芯片高低溫測試方法 利用 LabCompanion 試驗機程序設定溫度區(qū)間開展循環(huán)試驗，快速驗證極限溫度工況下芯片運行特性，如電壓、電流等參數變化；設備支持 DUT 試樣測溫模式，可外接 T/K 型熱電偶采集芯片表面真實溫度，精準監(jiān)控試樣達到預設溫度；適用于閃存、內存、eMMC 等各類存儲器件高低溫可靠性驗證。
LabCompanion TS-180 技術參數
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項目
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TS-180
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工作室容積
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180L
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溫度范圍℃
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-60 ~ +150（50Hz）
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溫變速率
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5～25℃/min 線性可調
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溫度精度
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±1.0℃，整機可溯源 CNAS 計量校準
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溫度顯示分辨率
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0.1℃
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溫度傳感器
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T 型或 K 型熱電偶（支持 DUT 外接測溫）
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遠程控制
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Ethernet、IEEE 488、RS232
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廣東宏展 LabCompanion 系列溫度沖擊試驗機，溫度范圍 -60 ℃ ~ +150 ℃，整機防靜電工業(yè)結構設計，搭載二元復疊式風冷制冷系統，不需要 LN?液氮或 CO?輔助冷卻；溫度顯示精度：±0.5℃，計量可溯源 CNAS 校準，整機通過 ISO 9001、CE、RoHS 認證。LabCompanion 設備適用于 RF 射頻，微波，電子元器件，功率器件，存儲芯片等溫度測試，滿足芯片特性驗證和故障分析的需求。
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廣東宏展科技：
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