在車規(guī)級(jí)芯片可靠性測(cè)試方面，廣東宏展 LabCompanion 三箱式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)區(qū)別于傳統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱，具備優(yōu)異的溫度交變性能；可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度，動(dòng)態(tài)調(diào)控箱內(nèi)環(huán)境溫度；搭配定點(diǎn)測(cè)試工裝后，可針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一個(gè)單顆 IC，獨(dú)立開展高低溫沖擊測(cè)試，不影響周邊其它器件。

車規(guī)級(jí)芯片高低溫測(cè)試案例： 廣東宏展合作客戶為國(guó)內(nèi)知名半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)公司，自主設(shè)計(jì)研發(fā)國(guó)產(chǎn)車載芯片，要求測(cè)試區(qū)間 -50℃~150℃，搭配模擬和混合信號(hào)測(cè)試儀，在通電工況下核查不同溫度區(qū)間元器件與模塊各項(xiàng)功能是否正常。經(jīng)宏展技術(shù)方案推薦，客戶選用 LabCompanion TS-180 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)；標(biāo)準(zhǔn)溫度范圍：-40℃ ~ +150℃，拓展溫區(qū)可達(dá) - 60℃~+150℃，溫度精度 ±1.0℃。通過使用該設(shè)備，大幅提升研發(fā)工作效率，可及時(shí)評(píng)估研發(fā)過程潛在隱患，助力產(chǎn)品滿足汽車an全電子產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)。

車規(guī)級(jí)芯片高低溫測(cè)試方法

1. 將被測(cè)芯片或模塊放置在測(cè)試治具上，將 LabCompanion 設(shè)備測(cè)溫探頭對(duì)應(yīng)布置于產(chǎn)品待測(cè)區(qū)域；

2. 設(shè)置所需執(zhí)行的溫度區(qū)間、沖擊轉(zhuǎn)換時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、高低溫駐留時(shí)長(zhǎng)；

3. 啟動(dòng) TS-180 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)，設(shè)備二元復(fù)疊制冷系統(tǒng)自動(dòng)完成冷區(qū)、熱區(qū)溫度管控，冷熱區(qū)自動(dòng)切換完成溫度沖擊，內(nèi)置溫度傳感器持續(xù)監(jiān)控箱內(nèi)工況溫度，支持外接 K/T 熱電偶采集試樣表面真實(shí)溫度；

4. 在汽車電子芯片測(cè)試平臺(tái)協(xié)同運(yùn)行下，TS-180 快速升降至設(shè)定工況溫度，實(shí)時(shí)采集芯片在對(duì)應(yīng)溫度、通電工作狀態(tài)下各項(xiàng)參數(shù)，為產(chǎn)品分析、工藝改良、批次定向品質(zhì)治理提供詳實(shí)的數(shù)據(jù)依據(jù)。

廣東宏展 LabCompanion 系列高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)，極限沖擊溫度范圍 -60 ℃ ~ +150 ℃，整機(jī)防靜電結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，搭載二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)，無需 LN?液氮或 CO?輔助冷卻；溫度顯示精度：±0.5℃，計(jì)量可溯源 CNAS 校準(zhǔn)；整機(jī)通過 ISO 9001、CE、RoHS 認(rèn)證。LabCompanion 設(shè)備適用于 RF 射頻，微波，電子元器件，功率器件，通信芯片、車規(guī)半導(dǎo)體等溫度可靠性測(cè)試，滿足芯片特性驗(yàn)證和故障分析需求。

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